SN74BCT8240ANT - IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Référence fabricant

SN74BCT8240ANT

Numéro de pièce interne

ABC-SN74BCT8240ANT

Fabricant

T-I

Brève description

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Statut RoHS

Sans plomb / conforme RoHS

Heure de livraison

1-2 jours

quantité disponible

58032 Pieces

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Spécifications pour SN74BCT8240ANT

Qualité garantie : 365 jours de garantie

Ressource de stock : Distributeur franchisé / fabricant direct

Pays d'origine : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

Numéro d'article : SN74BCT8240ANT

Fabricant : T-I

La description : IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Séries : 74BCT

Statut de la pièce : Obsolete

Type de logique : Scan Test Device with Inverting Buffers

Tension d'alimentation : 4.5V ~ 5.5V

Nombre de bits : 8

Température de fonctionnement : 0°C ~ 70°C

Type de montage : Through Hole

Paquet / caisse : 24-DIP (0.300", 7.62mm)

Package d'appareils du fournisseur : 24-PDIP

Poids : -

État : Nouveau et original

Liens connexes : SN74 , SN74BCT

Documents pour SN74BCT8240ANT

Feuilles de données : SN74BCT8240ANT.pdf

Produits associés pour SN74BCT8240ANT T-I

Numéro d'article	Marque	La description
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WF135272WL60236BJ1	Vishay Beyschlag	Ceramic Capacitors 6000PF 16KV SCREW.
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